日本電子熱場發射掃描電子顯微鏡 適用於奈米材料◕·、化學◕·、新材料◕·、半導體器件的觀察和分析│▩。

日本電子掃描電鏡 ◕·、日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-IT200 InTouchScope · JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡潔◕·、更易於使用且價效比高的掃描電子顯微鏡│▩。

日本電子掃描電子顯微鏡 JCM-700強大的“Zeromag“功能││☁▩，讓您從光學顯微鏡的觀察方式││☁▩，輕鬆的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察│▩。“Live Analysis“則實現了SEM影像觀察時實時的EDS成份分析│▩。

掃描探針顯微鏡（SPM）是在樣品表面用微小的探針進行掃描││☁▩，透過高倍率觀察三維形貌和區域性物理特性的顯微鏡總稱│▩。懸臂和樣品始終保持接觸││☁▩，控制懸臂與樣品之間的相互作用保持一定狀態下││☁▩，掃描樣品表面的模式│▩。這是Z典型的AFM模式││☁▩，可以得到目前Z高解析度影象│▩。懸臂在諧振頻率附近震動│▩。在懸臂震動的狀態下懸臂接近樣品時振幅會發生變化│▩。