和伍超聲掃描顯微鏡 裝置整機尺寸750mm（長）×700mm（寬）×1350mm（高）₪◕₪╃│。安裝方案基於空間佔用最小化和維護/服務條件需要◕╃╃，保證在裝置周圍留有500mm的空間◕╃╃，可以方便工作人員進行操作╃✘、維護₪◕₪╃│。

和伍水浸超聲掃描顯微鏡 超聲掃描顯微鏡（SAT）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像裝置◕╃╃，主要利用高頻超聲波◕╃╃，對各類半導體器件╃✘、材料進行檢測◕╃╃，能夠檢測出樣品內部的氣孔╃✘、裂紋╃✘、夾雜和分層等缺陷◕╃╃，並以圖形的方式直觀展示₪◕₪╃│。在掃描過程中◕╃╃，不會對樣品造成損傷◕╃╃，不會影響樣品效能◕╃╃，可有效滿足新能源╃✘、半導體╃✘、電力電子╃✘、熱管理材料╃✘、金剛石複合材料╃✘、碳纖維複合材料等行業需求₪◕₪╃│。

日本電子熱場發射掃描電子顯微鏡 適用於奈米材料╃✘、化學╃✘、新材料╃✘、半導體器件的觀察和分析₪◕₪╃│。

日本電子掃描電鏡 ╃✘、日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-IT200 InTouchScope · JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡潔╃✘、更易於使用且價效比高的掃描電子顯微鏡₪◕₪╃│。

日本電子掃描電子顯微鏡 JCM-700強大的“Zeromag“功能◕╃╃，讓您從光學顯微鏡的觀察方式◕╃╃，輕鬆的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察₪◕₪╃│。“Live Analysis“則實現了SEM影像觀察時實時的EDS成份分析₪◕₪╃│。

掃描探針顯微鏡（SPM）是在樣品表面用微小的探針進行掃描◕╃╃，透過高倍率觀察三維形貌和區域性物理特性的顯微鏡總稱₪◕₪╃│。懸臂和樣品始終保持接觸◕╃╃，控制懸臂與樣品之間的相互作用保持一定狀態下◕╃╃，掃描樣品表面的模式₪◕₪╃│。這是Z典型的AFM模式◕╃╃，可以得到目前Z高解析度影象₪◕₪╃│。懸臂在諧振頻率附近震動₪◕₪╃│。在懸臂震動的狀態下懸臂接近樣品時振幅會發生變化₪◕₪╃│。