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惠州市華高儀器裝置有限公司
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郵箱☁╃:1932151337@qq.com
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技術文章
產品圖片 | 產品名稱/型號 | 產品描述 |
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日本電子熱場發射掃描電子顯微鏡 適用於奈米材料◕·、化學◕·、新材料◕·、半導體器件的觀察和分析│▩。
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日本電子掃描電鏡 ◕·、日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-IT200 InTouchScope · JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡潔◕·、更易於使用且價效比高的掃描電子顯微鏡│▩。
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日本電子掃描電子顯微鏡 JCM-700強大的“Zeromag“功能││☁▩,讓您從光學顯微鏡的觀察方式││☁▩,輕鬆的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察│▩。“Live Analysis“則實現了SEM影像觀察時實時的EDS成份分析│▩。
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掃描探針顯微鏡(SPM)是在樣品表面用微小的探針進行掃描││☁▩,透過高倍率觀察三維形貌和區域性物理特性的顯微鏡總稱│▩。懸臂和樣品始終保持接觸││☁▩,控制懸臂與樣品之間的相互作用保持一定狀態下││☁▩,掃描樣品表面的模式│▩。這是Z典型的AFM模式││☁▩,可以得到目前Z高解析度影象│▩。懸臂在諧振頻率附近震動│▩。在懸臂震動的狀態下懸臂接近樣品時振幅會發生變化│▩。
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