和伍超聲掃描顯微鏡 裝置整機尺寸750mm（長）×700mm（寬）×1350mm（高）✘◕。安裝方案基於空間佔用最小化和維護/服務條件需要₪↟│，保證在裝置周圍留有500mm的空間₪↟│，可以方便工作人員進行操作··╃、維護✘◕。

和伍水浸超聲掃描顯微鏡 超聲掃描顯微鏡（SAT）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像裝置₪↟│，主要利用高頻超聲波₪↟│，對各類半導體器件··╃、材料進行檢測₪↟│，能夠檢測出樣品內部的氣孔··╃、裂紋··╃、夾雜和分層等缺陷₪↟│，並以圖形的方式直觀展示✘◕。在掃描過程中₪↟│，不會對樣品造成損傷₪↟│，不會影響樣品效能₪↟│，可有效滿足新能源··╃、半導體··╃、電力電子··╃、熱管理材料··╃、金剛石複合材料··╃、碳纖維複合材料等行業需求✘◕。

日本電子熱場發射掃描電子顯微鏡 適用於奈米材料··╃、化學··╃、新材料··╃、半導體器件的觀察和分析✘◕。

日本電子掃描電鏡 ··╃、日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-IT200 InTouchScope · JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡潔··╃、更易於使用且價效比高的掃描電子顯微鏡✘◕。

日本電子掃描電子顯微鏡 JCM-700強大的“Zeromag“功能₪↟│，讓您從光學顯微鏡的觀察方式₪↟│，輕鬆的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察✘◕。“Live Analysis“則實現了SEM影像觀察時實時的EDS成份分析✘◕。

掃描探針顯微鏡（SPM）是在樣品表面用微小的探針進行掃描₪↟│，透過高倍率觀察三維形貌和區域性物理特性的顯微鏡總稱✘◕。懸臂和樣品始終保持接觸₪↟│，控制懸臂與樣品之間的相互作用保持一定狀態下₪↟│，掃描樣品表面的模式✘◕。這是Z典型的AFM模式₪↟│，可以得到目前Z高解析度影象✘◕。懸臂在諧振頻率附近震動✘◕。在懸臂震動的狀態下懸臂接近樣品時振幅會發生變化✘◕。