日本電子熱場發射掃描電子顯微鏡 適用於奈米材料↟·││☁、化學↟·││☁、新材料↟·││☁、半導體器件的觀察和分析↟₪。

日本電子掃描電鏡 ↟·││☁、日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-IT200 InTouchScope · JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡潔↟·││☁、更易於使用且價效比高的掃描電子顯微鏡↟₪。

日本電子掃描電子顯微鏡 JCM-700強大的“Zeromag“功能☁▩◕✘▩，讓您從光學顯微鏡的觀察方式☁▩◕✘▩，輕鬆的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察↟₪。“Live Analysis“則實現了SEM影像觀察時實時的EDS成份分析↟₪。

掃描探針顯微鏡（SPM）是在樣品表面用微小的探針進行掃描☁▩◕✘▩，透過高倍率觀察三維形貌和區域性物理特性的顯微鏡總稱↟₪。懸臂和樣品始終保持接觸☁▩◕✘▩，控制懸臂與樣品之間的相互作用保持一定狀態下☁▩◕✘▩，掃描樣品表面的模式↟₪。這是Z典型的AFM模式☁▩◕✘▩，可以得到目前Z高解析度影象↟₪。懸臂在諧振頻率附近震動↟₪。在懸臂震動的狀態下懸臂接近樣品時振幅會發生變化↟₪。

一鍵閃測儀行業應用│▩·☁： 廣泛應用於機械↟·││☁、電子↟·││☁、模具↟·││☁、注塑↟·││☁、五金↟·││☁、橡膠↟·││☁、低壓電器↟·││☁、磁性材料↟·││☁、精密衝壓↟·││☁、接外掛↟·││☁、聯結器↟·││☁、端子↟·││☁、手機↟·││☁、家電↟·││☁、印刷電路板↟·││☁、醫療器械↟·││☁、鐘錶↟·││☁、刀具等↟₪。

國產滴水角測定儀☁▩◕✘▩， 該儀器採用現代化工藝製造☁▩◕✘▩，儀器採用先進的CMOS數字攝像機☁▩◕✘▩，配倍高解析度變焦式顯微鏡和高亮度LED背景光源系統☁▩◕✘▩，搭配三維樣品臺☁▩◕✘▩，可進行工作臺上下↟·││☁、左右↟·││☁、前後等方向移動↟₪。實現微量進樣及上下↟·││☁、左右精密移動↟₪。同時還設計了伸縮杆結構工作臺☁▩◕✘▩，能適應在不同使用者材料厚度加大的場合↟₪。儀器框架可以根據式樣的大小適量調節☁▩◕✘▩，擴大了儀器的使用範圍↟₪。