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  • X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720✘•₪₪✘:Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀☁✘│,採用高解析度的Si-PIN(或者SDD矽漂移探測器)☁✘│,測量精度和測量結果業界*↟•✘☁☁。 採用了FlexFP-Multi技術☁✘│,無論是生產過程中的質量控制☁✘│,還是來料檢驗和材料效能檢驗中的隨機抽檢和全檢☁✘│,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求↟•✘☁☁。
  • X射線熒光鍍層測厚儀

    產品型號✘•₪₪✘:

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    X射線熒光鍍層測厚儀測量元素範圍✘•₪₪✘:鈦Ti22---鈾U92; 測量5層(4層鍍層+底材層)鍍層☁✘│,同時分析15種元素☁✘│,自動修正X射線重疊譜線; 測量精度高││◕◕◕、穩定性好☁✘│,測量結果*確至μin; 快速無損測量☁✘│,測量時間短☁✘│,10秒內得出測量結果; 可分析固體││◕◕◕、溶液;定性││◕◕◕、半定量和定量分析; 進行貴金屬檢測↟•✘☁☁。
  • TREK重錘式表面電阻測試儀 無損檢測儀 Trek-152-1 表面電阻測試儀是用來測量各種傳導││◕◕◕、損耗││◕◕◕、絕緣的面電阻
  • X射線熒光鍍層測厚儀品牌✘•₪₪✘:本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量☁✘│,Ux-700更專業小樣品測試腔的設計☁✘│,帶有聚焦光點的準直器☁✘│,高解析度的探測系統☁✘│,眾多Z佳條件的選擇☁✘│,保證測試結果的準確性↟•✘☁☁。X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用☁✘│,提高了大批次生產電鍍產品的檢驗條件☁✘│,無損││◕◕◕、快速和更準確的特點☁✘│,對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障↟•✘☁☁。
  • 菲希爾膜厚儀磁性渦流兩用型塗鍍層測厚儀 新款DUALSCOPE MPO塗鍍層測厚儀採用廣受承認的Fischer探頭技術☁✘│,是較為小巧並能滿足您測量需要的儀器↟•✘☁☁。它測量精度高││◕◕◕、介面友好且結實耐用↟•✘☁☁。對不復雜工件的現場測量尤為理想↟•✘☁☁。內建探頭☁✘│,由磁感應及電渦流方法☁✘│,可快速無損地測量塗鍍層厚度↟•✘☁☁。
  • 精密塗鍍層測厚儀指標式厚度儀 三十多年來 MIKROTEST已成為被廣泛應用的自動測定塗鍍層厚度的儀器↟•✘☁☁。德國的“訣竅”說明它在工藝技術及精度方面☁✘│,具有磁性塗層測厚儀的高水準↟•✘☁☁。所有儀器均符合DIN││◕◕◕、ISO││◕◕◕、BS及ASTM標準↟•✘☁☁。
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