X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720☁·↟│：Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀✘↟•☁◕，採用高解析度的Si-PIN（或者SDD矽漂移探測器）✘↟•☁◕，測量精度和測量結果業界*│•·。 採用了FlexFP-Multi技術✘↟•☁◕，無論是生產過程中的質量控制✘↟•☁◕，還是來料檢驗和材料效能檢驗中的隨機抽檢和全檢✘↟•☁◕，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求│•·。

X射線熒光鍍層測厚儀測量元素範圍☁·↟│：鈦Ti22---鈾U92； 測量5層（4層鍍層+底材層）鍍層✘↟•☁◕，同時分析15種元素✘↟•☁◕，自動修正X射線重疊譜線； 測量精度高↟·↟₪↟、穩定性好✘↟•☁◕，測量結果*確至μin； 快速無損測量✘↟•☁◕，測量時間短✘↟•☁◕，10秒內得出測量結果； 可分析固體↟·↟₪↟、溶液；定性↟·↟₪↟、半定量和定量分析； 進行貴金屬檢測│•·。

TREK重錘式表面電阻測試儀 無損檢測儀 Trek-152-1 表面電阻測試儀是用來測量各種傳導↟·↟₪↟、損耗↟·↟₪↟、絕緣的面電阻

X射線熒光鍍層測厚儀品牌☁·↟│：本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量✘↟•☁◕，Ux-700更專業小樣品測試腔的設計✘↟•☁◕，帶有聚焦光點的準直器✘↟•☁◕，高解析度的探測系統✘↟•☁◕，眾多Z佳條件的選擇✘↟•☁◕，保證測試結果的準確性│•·。X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用✘↟•☁◕，提高了大批次生產電鍍產品的檢驗條件✘↟•☁◕，無損↟·↟₪↟、快速和更準確的特點✘↟•☁◕，對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障│•·。

菲希爾膜厚儀磁性渦流兩用型塗鍍層測厚儀 新款DUALSCOPE MPO塗鍍層測厚儀採用廣受承認的Fischer探頭技術✘↟•☁◕，是較為小巧並能滿足您測量需要的儀器│•·。它測量精度高↟·↟₪↟、介面友好且結實耐用│•·。對不復雜工件的現場測量尤為理想│•·。內建探頭✘↟•☁◕，由磁感應及電渦流方法✘↟•☁◕，可快速無損地測量塗鍍層厚度│•·。

精密塗鍍層測厚儀指標式厚度儀 三十多年來 MIKROTEST已成為被廣泛應用的自動測定塗鍍層厚度的儀器│•·。德國的“訣竅”說明它在工藝技術及精度方面✘↟•☁◕，具有磁性塗層測厚儀的高水準│•·。所有儀器均符合DIN↟·↟₪↟、ISO↟·↟₪↟、BS及ASTM標準│•·。